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장비
장비 및 시설 기본정보
가스 흡착 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bel Japan |
| 모델명 | BELSORP-max |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-12-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기계연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B704 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 액체질소의 온도에서 질소가스가 흡착되는 현상 즉 물리흡착을 이용하여 흡착된 기체의 양으로부터 다양한 샘플의 비표면적(BET Surface Area) 및 기공크기 및 분포를 전자동으로 측정하는 장비이다1. Analysis and Degas Manifold System (independently) - 1 x analysis manifold (turbo molecular pump + Oil vacuum pump) - 1 x degas manifold (Oil vacuum pump) 2. Sample Port ; 3 ports (Simultaneously measurement) - Low pressure measurement - 1 sample (0.1 torr Micropore analysis) - High accuracy measurement - 2 samples - Standard measurement - 3 samples 3. Pressure Sensor ; 8 ea (Standard) - 5 x 133 kPa (1000 torr) ; accuracy ± 0.25% F.S - 2 x 13.3 kPa (10 torr) ; accuracy ± 0.5% R - 1 x 0.0133 kPa (0.1 torr) ; accuracy ± 0.15% R 4. Automatic Valve System ; Automatic Pneumatic valve (4~5 bar) 5. Vapor Adsorption Measurement ; Standard - Water vapor alcohol and other VOC (Volatile Organic Compounds) adsorption 6. Po measurement : Simultaneously (Not interval) 7. Manifold Air Oven - Temperature of Air Thermostatic bath ; 40℃ (Fixed) - Temp Control : +/- 0.1℃ 8. Vacuum gauge : Pirani + Cold cathode gauge 9. A/D Converter ; 24 bit 10. Free Space Correction - US Patent # 6595036 - Free space correction-"Advanced Free Space Measurement" is used as the new method나노 기반 공정을 제조된 3차원 전극재료들의 표면적 측정 및 기공 상태를 정밀하게 측정할 수 있는 장비임.촉매 세라믹 다양한 흡착제 무기재료 및 2차 전지등의 전극재료의 표면 및 세공특성을 평가하는데 있어서 필수적인 장비임. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201206/.thumb/20120628171801.jpg |
| 장비위치주소 | 대전 유성구 장동 171 한국기계연구원 메카트로닉스연구동 지하1층 108 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-06-165876 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0033562 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |