파형분석기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Tektronix |
모델명 | TDS3034C |
장비사양 | |
취득일자 | 2010-01-25 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국광기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | D105 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 1. Bandwidth : 300MHz 2. Channel : 4Ch 3. Vertical Resolution : 9-Bits on all models 4. Sample Rate on each channel : 2.5GS/s 5. Time Base Range : 2.5ns to 50sec/div 6. FFT Standard 7. Trigger system : Auto Normal Single Sequence 8. Trigger Types : Edge Video Pulse Width(or Glitch) 9. Automatic Waveform Measurements : 11 10. Acquisition Modes : Sample Average Single Sequence 11. Display Interpolation-Sin(x)/x. 12. USB 2.0 Port Front*1ea 13. Size : 326.3mm*158.0mm*124.2mm Accessories 1. Probes : 500MHz 10X/1X Switchable Passive Probes*4ea 2. Documentation : User manual(Korean) 3. Power Cord 4. NIM/NIST-Traceable Certificate of Calibration 5. Choice PC Communications Software 6. National Instruments SignalExpress Tektronix Edition Interactive Measurements Software Base Version 7. Differential Probe : P5205 8. Current Probe : TCP202 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201109/.thumb/20110926165725.JPG |
장비위치주소 | 광주 북구 오룡동 1110-7 한국광기술원 조명실증평가센터 한국광기술원 조명실증평가센터 2층 211 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-09-149841 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0030045 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |