반도체검사기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 엠에스테크 |
모델명 | model-8000 |
장비사양 | |
취득일자 | 2011-03-03 |
취득금액 |
보유기관명 | 대구경북과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | C514 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 본 장비는 마이크로/나노 센서 또는 엑츄에이트의 특성해석과 테스트를 위하여 다양한 계측장비와 연결이 가능하도록 최대한 개방적으로 활용한다. Impedance Analyser를 이용하여 센서의 Impedance를 측정할 수 있으며 I-V 측정 장치에 연결하여 트랜지스터의 특성을 해석할 수 있다.1. Probe station Main body (8 inch vacuum chuck / Z Stage Unit / 8"x8" X-Y Stage Unit / 2"x2" X-Y micrometer Translation manual type) 2. Microscope (Maximum : 100 X)_CCD Zoom Camera 3. CCD Camera C-mpunt 4. A. High Positioner : ~ 1 fA Holder Less than 5. Probe Holder_C Type 6. Probe tip 7. Vacuum pump 8. Vibration Table_Air Compressor 9. System Control PCLaser Doppler vibrometer와 Probe station을 연결하여 마이크로 트랜스듀스의 진동을 측정할 수 있다. 이와 같이 다양한 연구 분야 및 교육 분야에서 본 장비는 활용성이 높다. |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201109/.thumb/20110907115835.jpg |
장비위치주소 | 대구 달성군 현풍면 상리 50-1 대구경북과학기술원 2연구동 2층 212A |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-09-148412 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0029852 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |