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장비
장비 및 시설 기본정보
원자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-09-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 연세대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 지정업체명/품명/모델명/수량 ㈜파크시스템스 / AFM / XE-100 / 1Set 일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이 즉 도체 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭 높이 각도 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있다.본 물품은 국내 특허 제 052301호 제10-0646441호 제 10-0721586호로 등록된 제품이다. * 수직스캐너와 수평스캐너를 분리하여 상호간섭 배제 / 하드웨어적인 Closed-loop Feedback 제어파크시스템사의 AFM XE-100은 시료의 전기적 자기적(磁氣的) 물리적 특성 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형 기능을 갖고 있다. 파크시스템사의 AFM XE-100은 시료의 전기적 자기적(磁氣的) 물리적 특성 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형 기능을 갖고 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201310/.thumb/20131008144520508.jpg |
| 장비위치주소 | 인천 연수구 송도동 송도과학로 85 - 자유관B 1층 105 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-11-150079 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0030302 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |