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장비
장비 및 시설 기본정보
도립현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Olympus |
| 모델명 | IX71-F22FL |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-09-21 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A201 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 빛이 다른 굴절을 갖는 물질을 통과할 때 발생하는 위상의 차이를 이용합니다. 파장의 방향은 폴라라이저로 인해 단일화되며 콘덴서에 위치한 DIC prism을 통과할 때 두 개의 빔으로 나뉩니다.두 개의 빔은 서로 직각을 이루며 교차하며 빔이 분리된 거리를 shearing amount 라고 하며 제품에 따라 조절 이미지의 특성을 바꿀 수 있습니다. 두 개의 빔이 매질을 통과해 서로 다른 굴절률을 갖고 그 중 굴절률이 큰 쪽은 작은 쪽보다 속도가 지연 됩니다. 두 개의 빔이 대물렌즈 쪽에 위치한 DIC prism을 통과하면서 빛이 다시 합쳐지며 어날라이저를 통과해 입체이미지를 생성합니다. 대부분 한 종류의 DIC prism을 제공하는 기존 제품과는 다르게 다양한 두께의 시료에 적합하도록 4종류의 DIC prism을 개발 상용화했습니다.·도립현미경: 미분간섭관찰 및 형광관찰이 가능하도록 구성 형광 관찰과 patch 실험을 위한 두 대의 카메라를 동시에 장착할 수 있는 어댑터 및 10 60배 고해상 대물렌즈 장착 ·형광 광원: 셔터가 기본 장착 된 400시간 수명의 제논램프 ·마운트: Patch 실험에 적합하도록 설계된 도립현미경용 마운트 ·이미징 시스템: Patch 실험을 위한 미세조절이 가능하도록 부드러운 이미지를 제공하는 아날로그 이미징 시스템 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201202/.thumb/20120213175126.jpg |
| 장비위치주소 | 서울 성북구 월곡2동 과학기술연구원 39-1번지 한국과학기술연구원 산학연협력연구동(L7) 2층 L7213-1 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-02-154095 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0031039 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |