양자효율측정장치
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Otsuka Electronics |
모델명 | QE-1100 |
장비사양 | |
취득일자 | 2011-11-07 |
취득금액 |
보유기관명 | 서울대학교 산학협력단 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A400 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | - 빛의 파장별에 따른 형광물질의 외부 내부 양자 효율 측정 - 광촉매 재료의 빛 흡수 특성 분석 - 형광분말 LED에서의 Photo luminescence - LB막 기능성분자막의 생물발광 산란광 측정 분석Low Stray light 멀티태널검출기 -측정파장범위: 250nm~800nm -분광기 그레이팅:Blazed Holographic형 F=3 f=135mm 파장정밀도: ±0.3nm -검출기: 전자냉각형 CCD이미지 센서 -소자당파장폭: 1.2nm/소자 -소비전력: 100V/200V 125VA 여기광원부 -여기광원Unit: 제논램프+분광기 -여기파장: 250nm~700nm -파장주사방식:파장직독 Signbar 방식 (수동/자동) 측정부 -전분반구(HalfMoon) Unit: φ60mm φ150mm -적분구Unit: φ60mm -소비전력: 415VA -AC입력: 100V ± 10% 50/60 Hz |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201202/.thumb/20120201105644.jpg |
장비위치주소 | 서울 관악구 대학동 서울대학교 산 56-1 서울대학교 131동 (신소재공동연구소) 2층 212 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2012-02-153474 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0030949 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |