엑스선검사기
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 쎄크(Sec) |
| 모델명 | X-EYE 5000B |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-02-13 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 충북테크노파크 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A503 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 용도 1 - 반도체 소자 및 부분품 분석 2 - 반도체 제품에 대한 Inspection 및 불량분석용 (X-Ray 투과하여 Open 및 Short검출) 기능 1. X-Ray tube voltage :Max. 130 Kv 2. X-Ray tube current :Max. 400uA 3. Magnification : up to 1000X 4. Sample Loading Stage:500x400mm 5. Measurement Stage Size:350x300m 6. Measurement Min. Size: Min. 2um 7. Distance measurement Function -Distance Wire Loop Wire Sweep Die void calculation Area measurement with color feature1. X-Ray tube voltage :Max. 130 Kv 2. X-Ray tube current :Max. 400uA 3. Magnification : up to 1000X 4. Sample Loading Stage:500x400mm 5. Measurement Stage Size:350x300m 6. Measurement Min. Size: Min. 2um 7. Distance measurement Function -Distance Wire Loop Wire Sweep Die void calculation Area measurement with color feature1 - 반도체 소자 및 부분품 분석 2 - 반도체 제품에 대한 Inspection 및 불량분석용 (X-Ray 투과하여 Open 및 Short검출) 장비사용협의시 담당자 문의 -> 협의 -> 예약 -> 시험진행 순서로 진행 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110110173625.JPG |
| 장비위치주소 | 충청북도 청주시 청원구 오창읍 연구단지로 76 충북테크노파크 첨단IT산업관 1층 물성분석실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-10-005975 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0001221 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |