| 보유기관명 |
한국표준과학연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
B520 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
XRD는 액체 금속 무기물 중합체 촉매 플라스틱 조제약 박막 코팅 세라믹스 및 반도체를 포함한 11가지의 다양한 범주의 물질을 분석하기 위한 고성능 비파괴적 분석 기술인 'X선 회절 분석기'다. 정량분석 정성분석 결정학적 구조와 이완 상태 잔류 응력 마이크로 회절 등의 검사 등에 사용된다.
XRF는 액체 고체 파우더 상태의 모든 종류 샘플의 가장 기본적인 성분분석을 수행하는 'X선 형광분석기'다. 또한 베릴륨에서 우라늄까지 원소의 분석을 위해 간편하고 빠른 샘플 준비뿐 아니라 100% ppm 이하 수준까지 분석해내는 정확성을 겸비한 장비다.EDS는 전자현미경에 부착된 시료의 이미지(SEM TEM FIB EPMA) 확인 시 발생되는 형광X선을 검출해 원소를 분석하는 '전자현미경용 미세 분석기'다. 전자현미경과 같이 사용해 정성 및 정량분석은 물론 라인을 따라 원소들의 분포를 분석하거나 특정 영역 내에 있는 원소들의 분포를 분석하기 위해 사용한다. |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201201/.thumb/20120125093055.JPG |
| 장비위치주소 |
대전 유성구 도룡동 452 한국표준과학연구원 신소재동(301) |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2012-01-152815 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0030846 |
| 첨부파일 |
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