원자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | (주)다우에어트랜스 |
모델명 | SPM 25 |
장비사양 | |
취득일자 | 2003-10-20 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국표준과학연구원 |
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활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 공기 및 액상에서 시료의 나노형상을 측정할 수 있는 원자현미경으로 시료 및 탐침 장착이 간편하며 시료이미징시 안정적 스캔을 할 수 있는 원자현미경 유닛이다. 구성: 레이저 및 PSPD 검출기를 이용하여 캔틸레버 변위를 측정하며 레이저 얼라인먼트 및 검출기 얼라인먼트가 쉽게 설계되어 있다. 시료의 장착 및 탈착이 쉽도록 구성되어 있다. 스캐너는 대형시료 장착 및 스캔을 위하여 100x100 umxum 영역을 스캔할 수 있으며 수평분해능 0.1 nm 수직분해능 0.01 nm 수준을 유지한다. 성능: 일반적 원자현미경의 성능뿐만 아니라 나노리소그래피를 수행할 수 있는 하드웨어가 장착되어 있다. 액상에서 나노이미징이 가능하도록 팁홀더 및 시료장착부분이 특성화되어 있다. 나노형상측정 나노물질간 상호작용 측정 나노리소그래피 나노스케일 전위측정 축전 전하량 측정 등이 가능하다. |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201106/.thumb/20110622135727.jpg |
장비위치주소 | 대전 유성구 가정동 한국표준과학연구원 301동 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-06-145750 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0029330 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |