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장비
장비 및 시설 기본정보
표면거칠기측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-06-15 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 아주대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | Artifact Free Imaging by Crosstalk Elimination Two independent closed- loop XY and Z flexure scanners for sample and tip Out of plane motion of less than 2 nm over entire scan range Flat and linear XY scan of up to 100 μm x 100 μm with low residual bow Up to 25 μm Z-scan by high force scanner Accurate height measurements Reduced drift rate of less than 0.5 nm/min Ultimate AFM Resolution by True Non-Contact ModeTM 10 times larger Z-scan bandwidth than a piezotube Less tip wear for prolonged high-quality and high-resolution imaging Minimized sample damage or modification Immunity from parameter-dependent results observed in tapping imaging User Convenience by EZ Design Wide open access to the tip and sample Snap tip exchange & EZ Laser beam alignment Dovetail-lock mount for easy head removal Direct on-axis optics for high resolution optical viewing Motorized optics stage |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201102/.thumb/20110217191640.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 수원시 영통구 원천동 산 5번지 원천관 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-02-143766 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0028308 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |