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장비
장비 및 시설 기본정보
반도체 소자 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | B1500A |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-02-23 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 광주과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 1. Perform IV and CV measurements 2. Up to 10 module slot offer measurement flex -ibility 3. This instrument has a measurement perform -ance with available low-current measurement 0.1 femtoamp and low-voltage measurement res -olution of 0.5 microvolts 4. High-speed ADC present on each installed SMU 용도 Semiconductor Device Analzyer는 Femto level의 Ampere까지 반도체 소자의 DC 특성을 분석하여 IV Parameter를 추출하고 5MHz까지의 Capacitance특성을 분석하여 CV Parameter 값을 추출하는 장비로서 0.1 fA？？지의 Low current measurement가 가능하고 0.5V의 낮은전압측정 분해능을 제공하여 반도체 연구 개발분야에서는 반드시 필요한 장비이다 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201405/.thumb/2014050810101124.JPG |
| 장비위치주소 | 광주 북구 오룡동 광주과학기술원 1 광주과학기술원 신소재공학동 1층 104호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-138067 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0023609 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |