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장비
장비 및 시설 기본정보
광산란 측정기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 제이앤씨테크 |
| 모델명 | JCH-300S |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-02-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | LG디스플레이(주) |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 광학적 소재에 대한 표면 광 산란 정도를 분석하기 위해 시료 표면에 빛을 조사 시키고 이때의 산란 정도를 분석하는 장비이다. 특정 파장 영역(380nm~780nm 5nm interval)의 빛을 시료 표면에 조사 시킨 후 여러각도에서 측정하여 정량적 데이터를 산출할 수 있다. 대응 기판 사이즈는 Min 30*30mm Max 300*400mm에 해당한다. 광조사부 (광학기기부) 및 광 산락 검출부 태양전지용 다양한 투명전도막 표면 및 표면에 요철을 제작한 시료에 대한 광의 산란 특성을 분석함. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110125185543.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 파주시 월롱면 덕은리 1007번지 LG디스플레이 R&D 센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-136662 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0024109 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |