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장비 및 시설 기본정보
파장분산형 형광X-선 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | ZSX Primus II |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-02-12 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한양대학교 ERICA캠퍼스 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B522 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | XRF 형광 X-선의 파장을 이용 고체액체시료의 정량 및 정성분석에 사용 Generator - 4kW(60kV150mA) End-window type RH target Spcetrometer-분석원소 : 4Be~92U DetectorF-PC : 4Be~30Zn용 SC:22Ti~92U Mapping - CCD camera :Min step 100um 배율20 0.5mm 영역의 미소 부위 분석가능 분석가능 시료-고체분말액체 전처리 장비-Bead sampler Ring mill Automatic Press2 position sample loader scintillation counter pha/hv unit theta -2theta goniometer area limiting diaphram다양한 분야에서 연구개발에 기본이 되는 물질 및 소재의 성분 분석용 장비로 전기 전자 정보통신 반도체 재료 환경 정밀화학 바이오 등의 거의 모든 기술 분야에서 사용이 가능하다 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110121114751.JPG |
| 장비위치주소 | 경기 안산시 상록구 사3동 한양대학교 1271번지 한양대학교 안산캠퍼스 학연산클러스터지원센터 1층 107 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-135358 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0022953 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |