- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
2차원X-선회절분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Bruker |
| 모델명 | D8-Discover with GADDS |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-06-09 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경희대학교 연구실험지원센터 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | 시험·검사장비 |
| 시설장비 설명 | 특성 X-선을 시료에 조사하였을때 원자나 분자, 이온등에 의해 회절된 X-선을 해석하여 물질의 정성, 정량 및 구조를 분석하는 장비. 특히 GADDS system은 2-Dimentional Area Detector를 채용하여 기존의 Point Detector에 비해 매우 빠른 측정이 가능하며, 다양한 Application을 구현할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/2eJhp2BbTVXuRRPwV9Hu_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 공학관 XRD실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2006-03-043437 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-khu_kukje-00004 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |