- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
전계방출형 전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Tescan |
| 모델명 | MIRA 3 LMU |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-12-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 기타장비 |
| 시설장비 설명 | 반도체, 고분자, 박막재료, 촉매, 금속, 섬유 등 모든 고체의 표면 형태 관찰 및 구성 원소의 성분 분석에 이용하고 전자빔을 물질에 주사할 때 발생하는 2차 전자를 이용하여 물질의 표면을 관찰하며, 에너지 분산형 X-선 형광분석기를 부착하여 구성 원소의 성분을 분석함. 기초 연구 및 화학 관련 산업 전반의 시료의 표면 관찰 및 구성 원소의 분석에 활용됨. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images/equip/photo/.thumb/5Ot8ovzkLIC3DFPCFJqx_w600.jpg |
| 장비위치주소 | 화학분석센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-01-152322 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-krict_analy-00026 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |