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장비
장비 및 시설 기본정보
전계방사주사현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-6701F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2010-05-27 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 우석대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - High resolution field emission scanning electron micro scope which cold type FEG for the electron source permits 1.0nm guaranteed resolution at 15kV and 2.2nm guaranteed resolution at 1kV or better. - 1280x960 pixels high-definition display system enables a fine flicker free image even in a slow scan condition and makes the SEM possible to be operated in a lighted room.1) Resolution: 1.0nm guaranteed at 15kV or better 2.2nm guaranteed at 1kV or better 2) Magnification: 25 to 650000X or wider 3) Accelerating voltage: 0.5 to 30kV or wider 4) Probe current: 1x10-13 to 2x10-9 or wider시료의 표면 Image 및 원소 조성차이에 의한 조성상 관찰 불순물의 위치파악 및 형태 크기 관찰 고분자의 형태와 크기 표면형상 관찰 시료의 원소분석과 Mapping을 통한 구성성분 분석 관찰 시료의 정량？정성 분석(Point Line Mapping) |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110106105109.JPG |
| 장비위치주소 | 전북 완주군 봉동읍 둔산리 864-10 지역혁신센터 우석대학교 지역혁신센터 1층 107 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-01-131491 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0021175 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |