이온집속빔시스템
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Fei |
모델명 | Nova Nano SEM200 |
장비사양 | |
취득일자 | 2006-01-05 |
취득금액 |
보유기관명 | 가천대학교 글로벌캠퍼스 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 특징 이온빔을 이용하여 샘플의 표면을 식각 또는 2차 이온 이미지를 관찰할 수 있다.사양 1) Schottky type UHR FE-SEM 2) Magnum Ion Column 3) Gas Injection System 4) STEM 5) EDX 6) Auto TEM Sample S/W 성능 1) Image View (Secondary Ion Image Secondary Electron Image) 2) Cutting (Cross section 관찰 TEM Sample Preperation) 3) Deposition (Source : Platinum Insulator) 4) SPI 5)가속전압:30kV활용분야 1)샘플의 식각을 통한 단면 관찰 2)TEM시편 제작 3)2차 이온 이미징 4)Pt증착을 이용한 패턴 형성 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201110/.thumb/20111024163024.JPG |
장비위치주소 | 경기 성남시 수정구 복정동 산 65-2 가천대학교 글로벌캠퍼스 새롬관 1층 116 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2010-12-128883 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0020229 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |