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장비
장비 및 시설 기본정보
반도체계수분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Agilent Technologies |
| 모델명 | 4155C |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-04-08 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 동의대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 4155C Semiconductor Parameter Analyzer 4155C Test cerificate for ISO 9001-2- 전자세라믹스 부품의 전류/전압 특성 측정이 가능하다. - 반도체 웨이퍼나 소자 등과 같은 여러가지 전자세라믹스 부품의 I-V(Current-Voltage) 특성을 측정이 가능하다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/itep200710/.thumb/1153996945_1.jpg |
| 장비위치주소 | 부산 부산진구 가야3동 동의대학교 산25 동의대학교 정보공학관 3층 309 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-10-004307 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0016223 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |