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푸리에변환적외선분광현미경

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보유기관명	서울대학교 산학협력단
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	B502
표준분류명
시설장비 설명	특징 박막 두께 측정기기는 접촉식(Stylus)측정 방식으로 시료 위에 도포 시킨 각종 박막의 표면을 Scanning하여 그들 박막의 두께를 1 Angstrom 미만의 분해능으로측정하며 표면의 거칠기 및 상태를 확인할 수 있다. 또한 두께 뿐만 아니라 고체에서 알아야 할 가장 중요한 특성인 광학 상수를 손쉽게 구할 수 있다. 이 광학 상수를 통해 우리는 고체의 전자 구조를 파악할 수 있다.활용 예 일반적으로 기판에 증착된 물질의 경우 일반적인 반사율 측정으로는 광학 상수를 구할 수 없다. 일반적으로 광학 상수는 복소수이고 그렇기 때문에 독립된 두개의 변수를 측정해야 한다. 두께 측정기는 반사된 빛의 상대적 세기와 위상을 동시에 측정하여 이러한 광학 상수를 쉽게 구할 수 있게 해준다.
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110119154200.jpg
장비위치주소	서울 관악구 대학동 서울대학교자연과학대학 산 56-1 서울대학교 19동 (자연과학대학) 4층 402호
NFEC 등록번호	NFEC-2008-07-061396
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0016320
첨부파일