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장비
장비 및 시설 기본정보
원자력간현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-150 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-08-04 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 서울대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 Sample 표면과 tip 사이의 atomic force에 따라 cantilever가 휘어지게 되고 이 정도를 측정한다. 휘어지는 정도는 장비에 부탁된 laser와 photo diode를 이용하여 측정한다. 휘어지는 정도는 sample과 tip사이의 atomic force를 의미하고 이는 sample과 tip 사이의 거리 측정하는 물질에 관계하며 이 중 sample과 tip간의 거리는 tip이 일정 높이에서 이동한다고 여기면 sample의 roughness에 의해 바뀌게 된다. 따라서 이 휘어지는 정도 즉 tip과 sample사이의 거리에 따른 힘의 변화를 laser로 측정하고 이를 surface roughness로 해석하게 된다.구성및성능 구성:Scanner Stage Head Optics 성능: roughness 측정 시 0.1 nm 수준활용분야 여러가지 metal semiconductor insulator의 표면 거칠기를 측정할 수 있으며 물질에 따라 contact mode non-contact mode를 이용하여 측정한다. 또한 nanoindentation을 통해 물질의 strength modulus를 비교할 수 있다. 그리고 어떤 표면에 여러가지 물질이 존재할 경우 tip 진동의 phase와 amplitude의 변화를 통해 정성적으로 어떤 물질이 있는지는 알 수 없지만 몇가지 물질이 있는지에 대한 정보 또한 얻을 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201101/.thumb/20110104123048.jpg |
| 장비위치주소 | 서울 관악구 대학동 서울대학교 산 56-1 서울대학교 311동 (화학공정신기술연구소) 2층 208호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-12-136215 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0017151 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |