프로버
| 기관명 | ZEUS |
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| 장비번호 | |
| 제작사 | OPTO-SYSTEM |
| 모델명 | WPS3100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-07-31 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국나노기술원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 광반도체 소자의 전기적 광학적 특성을 측정하는 장치이다. 프로버(Prober) : 웨이퍼를 자유롭게 이동할 수 있어서 웨이퍼의 칩들이 자동적으로 테스트하여 양품/불량품으로 자동 분류하여 주는 보조 테스트 시스템ㆍWafer size : 2inch ~ 6inch ㆍWafer type : Vertical type LED Lateral type LED ㆍWavelength : Wavelength : 200nm~950nm ㆍTact time : Max. 0.3sec/chipLED wafer 및 chip의 광학적 전기적 특성을 할 수 있다. Semi automatic 측정 장치로써 Tact time이 빠르기 때문에 wafer 전체를 측정하여 각 chip들의 특성을 확인할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201109/.thumb/20110901175405.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 수원시 영통구 광교로 109 (이의동) 한국나노기술원 한국나노기술원 한국나노기술원 2층 후공정 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-10-079106 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0017646 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |