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장비 및 시설 기본정보
다목적나노X선회절분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Panalytical |
| 모델명 | X’Pert PRO MRD |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-08-08 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경남대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 특성 X-선과 대상 시료의 여러 가지 상호작용 중 회절 특성과 반사 특성을 이용하여 대상 시료의 미세구조 분석 및 결정구조 간의 정성 및 정량 분석을 가능하게 하며 이러한 특성을 이용하여 ▶ 다결정 다반사에 의한 고분해능 측정 ▶ 반사측정을 통한 단/다층 박막의 밀도 거칠기 및 두께 측정 ▶ 미소영역 X-선 조사(Mono capillary) ▶ Pre-Fix개념을 갖는 다양한 분해능의 Channel Cut Crystal ▶ Analyzer Crystal을 보유하여 결정성에 따른 분해능 선택 가능 ▶ 반도체 Detector를 이용하여 S/N비를 확대 (미량성분 분석 가능) ▶ 온도가변장치(Domed Hot Stage)를 이용한 변온실험 등이 가능하다.구성및성능 ▶ X-ray generator : 3KW ▶ Special LFF Cu anode ▶ 4-bounce crystal(Ge(220)) ▶ Hybrid( Mirror + Ge(220) 4-bounce ) ▶ Analyzer Crystal( 3-bounce Ge(220) ) ▶ Eulerian cradle( 2θ Omega Psi Phi X Y Z) ▶ Graded multi-layer mirror ▶ Micro-area(Mono capillary : 100㎛) ▶ X-ray Lens ▶ Thin Film attachment(Flat Graphite Monochromator Parallel Plate Collimator) ▶ X'celerator Detector & Proportional Detector ▶ Fixed/Programmable Divergence(Receiving) Slit (Curved Graphite Monochromator) ▶ Fixed/Programmable Anti-Scattering Slit ▶ Sample Spinner : 2 1 1/2 1/4 1/8 1/16 rps ▶ Multi-Purpose Sample Stage : Max. sample diameter : 100mm ▶ Graded multi-layer mirror(primary & second optics)활용분야 분말이나 고체 재료의 결정상분석 ● 단결정 시료의 결정방위 및 대칭 요소분석 ● 나노입자의 입도분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201109/.thumb/20110908112554.JPG |
| 장비위치주소 | 경남 창원시 마산합포구 월영동 경남대학교 449번지 경남대학교 제4공학관 2층 소재특성평가실1/X-선분석실/COXEM-SEM2실 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-11-076922 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0015015 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |