Reflectormeter (Litho용)
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 케이맥(K-MAC) |
| 모델명 | St5000-auto200 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-01-01 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 나노종합기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | - 기준빛과 반사빛의 간섭현상을 이용하여 반사도 및 두께 측정을 하는 장비 - 간섭계 스테이지 해석 프로그램으로 구성되어 있으며 300Å ~ 수십㎛까지 측정 가능하다. - 얇은 필름 두꺼운 필름 코팅의 두께 측정 및 메탈 필름의 반사도 측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201405/.thumb/2014051411617614.jpg |
| 장비위치주소 | 대전 유성구 어은동 대전 유성구 대학로 291 (어은동 53-3) 카이스트 부설 나노종합기술원 나노종합기술원 1층 FAB |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-11-047864 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0015292 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |