주사 프로브 현미경
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 파크시스템스 |
| 모델명 | XE-100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-06-28 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 서울대학교 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | null구성 및 성능 -Specification- 1.Main body : XE-100 system 2.System computer and controller 3.XY scanner and head 4.Sample stage and Z stage 5.High power optical microscope with CCD camera 6.17 monitor -Accessories- 1.Active vibration isolation table 2.Enhanced EFM 3.활용분야 나노재료 표면분석 Lithography 액상AFM을 이용한 생물 시료의 실시간 분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/itep200710/.thumb/11BF167ED04364364925709D0024CDDA.jpg |
| 장비위치주소 | 서울 관악구 대학동 서울대학교 산 56-1 서울대학교 311동 (화학공정신기술연구소) 2층 213 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-10-012688 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0012043 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |