- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
초저전압 고분해능 전계방사형 주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-7900F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2018-12-21 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 초저전압 고분해능 전계방사형 주사전자현미경는 shottky type 전자총이 차용된 고분해능 전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM)으로 나노 미세구조 분석에 대응하며, 화학적 조성 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광기(EDS)와 결정방위 분석이 가능한 전자후방산란회절장치(EBSD), 탄화수소 오염을 제거하는 플라즈마 클리너 부대장치가 달린 본장치 1대와 저온 단면이온빔폴리셔 (CCP: Cooling cross-section polisher) 1대와 고분해능 전도성 코팅기 1대를 포함하는 1세트로 구성됨 |
| 장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201812/201812271314184.png |
| 장비위치주소 | 연구4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2018-12-248007 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202005292157 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |