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장비 및 시설 기본정보
OLED용 I-V-L 측정장치
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 제이비에스인터네셔날 |
| 모델명 | IVL-300 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-06-21 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 경희대학교 산학협력단 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 특징 OLED 소자의 전기적 특성 발광 특성의 평가에 활용된다. 인가되는 전압에 따라 소자에 흐르는 전류 전류밀도 및 휘도 등을 측정하여 다양한 efficiency(power luminous emission quantum)의 측정이 가능하며 색좌표로도 표현이 가능하다.구성및성능 Spectral method : Czerny-Turner grating mirror type - Range : 300 nm ~ 800 nm - Resolution : Min. 0.4nm Application of Filter & Irradiance calibration - low pass filter : LPF280 - Order sorting filter : OSF300800 - Irradiance calibration with NIST traceable standard lamp Neutral density filter - Spectral range : 300 nm ~ 800 nm - Variety transmittance range (10 ~ 90%) Voltage resolution & accuracy - Range : ±200V - Programming RESOLUTION : Min. 5㎶ - Source accuracy : Min. 0.02%+600㎶ - Measurement resolution : Min. 1㎶ - Measurement accuracy : Min. 0.012%+300㎶ Current resolution & accuracy - Range : ±1A - Programming RESOLUTION : Min 50㎀ - Source accuracy : Min. 0.035%+600㎀ - Measurement resolution : Min. 10㎀ - Measurement accuracy : Min. 0.029%+300㎀OLED 소자의 전기적 특성 발광 특성의 평가에 활용된다. 인가되는 전압에 따라 소자에 흐르는 전류 전류밀도 및 휘도 등을 측정하여 다양한 efficiency(power luminous emission quantum)의 측정이 가능하며 색좌표로도 표현이 가능하다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200810/.thumb/NFEC-2008-10-069047.jpg |
| 장비위치주소 | 경기도 용인시 기흥구 덕영대로 1732 (서천동) 멀티미디어관 B1 경희대학교 산학협력단 멀티미디어관 지하1층 111 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-10-069047 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0011532 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |