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장비
장비 및 시설 기본정보
집속이온빔장치
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | FEI |
| 모델명 | Helios 450HP |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-08-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 울산과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A200 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | Focused Ion Beam (FIB) technology allows for fast failure analysis and circuit modification and FIB provides you new access to prototyping of micro- and nanosystems. Technology for - Local material removal on sub-100 nm scale - Local deposition of conducting and insulating layers in direct writing mode - Process control by high resolution secondary electron imaging |
| 장비이미지코드 | https://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201509/201509151113120.jpg |
| 장비위치주소 | 울산과학기술원 108동(자연과학관) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-01-185108 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | https://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201905039048 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |