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장비
장비 및 시설 기본정보
전계방사형 전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4800 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-03-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 대구경북과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 전계방사형 전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope) - 진공 환경하에서 전계방사형 source에서 방출되는 전자빔을 이용하여 성분분석기를 이용하여 정성 및 정량분석을 하는 표면 분석장비임. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201211/20121115172944.jpg |
| 장비위치주소 | 대구경북과학기술원 중앙기기센터 205 소자클린룸 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-02-174946 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201812171119 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |