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장비
장비 및 시설 기본정보
수차보정전계방사형 투과전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JEM-2100F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2011-06-22 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | The JEM-2100F is an advanced Field Emission Electron Microscope featuring ultrahigh resolution and rapid data acquisition. The JEM 2100F is a next generation TEM that simplifies atomic level structural analyses in biology, medicine, and materials sciences as well as the semiconductor and pharmaceutical industries. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201406/2014061816281187.JPG |
| 장비위치주소 | 재료연구소 연구4동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2011-08-147219 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202006045329 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |