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장비
장비 및 시설 기본정보
전기장방사형 주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4200 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1996-08-19 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 시료표면에 가속전압의 전자선을 시료 위에 주사시키고 시료외의 상호작용에 의해 시료면에서 방출되는 2차전지를 검출기로 검출하고 그것을 증폭하여 상 형성을 함으로써 고체시료의 미세조직 형상 및 단면을 관찰할 수 있는 장치이다. Acc. Voltage : 30kV Resolution : 1.2nm(30kV) Magnification : 500000x |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201402/20140213141312138.jpg |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원 대구센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-1995-05-056194 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0008580 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |