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장비
장비 및 시설 기본정보
저온전계방출형주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | SU8220 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-02-04 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 울산과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 입사빔은 전자렌즈 시스템을 통해 시료 표면에 집속되고 이때 시료와 상호작용으로 방출되는 신호들은 각종 검출기를 통해 SE 이미지로 영상화 시켜서 구조를 관찰하며 EDS을 이용하여 시료의 화학성분을 정성, 정량 할 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201503/2015033111759353.JPG |
| 장비위치주소 | 102동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-03-200831 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202003267159 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |