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저온주사탐침현미경

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보유기관명	재료연구소
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A208
표준분류명	분석
시설장비 설명	본 장비 저온 주사탐침 현미경은 저온(4K)에서 CONTACT 및 NON-CONTACT모드로 시료 표면을 관찰한다. 이를 통해 시료표면의 형상뿐만 아니라 자구의 분포 및 자기적 특성(MFM)과 표면의 전기적 POTENTIAL 상태(KPFM)를 분석할 수 있다. 이 뿐만 아니라 압전 재료의 변위량 분석(PRFM)과 재료의 전기적 저항 변화에 대한 분석도 가능함.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201606/20160624135628403.jpg
장비위치주소	재료연구소 연구6동
NFEC 등록번호	NFEC-2016-07-210542
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202005292199
첨부파일