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장비
장비 및 시설 기본정보
탁상용 전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | FEI |
| 모델명 | FEI XL-30 FEG |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2009-09-15 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 재료연구소 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 본 장비인 SEM은 Electron beam이 sample의 표면에 주사하면서 sample과의 상호작용에 의해 발생된 S.E(Secondary Elecron)를 이용해서 샘플의 표면을 관찰하는 장비이다. 광학현미경을 이용한 전체 사진과 전자 현미경을 이용한 미세구조 사진을 모두 찍을 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160822142246_20091106000000050082 NFEC-2009-11-076229.jpg |
| 장비위치주소 | 재료연구소 연구1동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-11-076229 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-202006045348 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |