주사탐침 현미경
| 기관명 | ZEUS | 
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| 장비번호 | |
| 제작사 | ㈜파크시스템스 | 
| 모델명 | XE-100 | 
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-10-19 | 
| 취득금액 | 
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 | 
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 | 
| 표준분류명 | 분석 | 
| 시설장비 설명 | - 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 극히 미세한 탐침을 시료표면 가까이 가져갔을 때 생기는 원자간의 상호 작용력을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장치로써 원자현미경의 장점은 원자 지름의 수 십 분의 일(0.01nm) 까지도 측정해 낼 수 있는, 최고 수천만배로서 개개의 원자까지도 관찰할 수 있는 분해능력. - 일반 대기 중에서 시료표면의 전처리 과정 없이, 즉, 도체, 반도체 및 부도체에 상관없이 3차원 형상을 측정함으로써 폭, 높이, 각도, 거칠기 등 3차원적 정보를 얻을 수 있으며, 액체 내에서도 작동하므로 살아있는 세포의 구조나 세포 분열 등을 관찰 할 수 있으며, 또한 시료의 전기적, 자기적(磁氣的), 물리적 특성, 물질 상호 반응 현상 측정 및 미세한 시료 표면 형상의 변형(Nanolithography, Nanomanipulation) 을 할 수 있는 장비 | 
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/2013101011332625.jpg | 
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 연구1동 | 
| NFEC 등록번호 | NFEC-2005-11-044093 | 
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00057 | 
| 첨부파일 | 
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |