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장비
장비 및 시설 기본정보
전계방사형 표면 주사현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4700 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2001-04-18 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 전자빔을 시료에 주사하여 시료로부터 발생한 이차전자 X-ray Cathodoluminescence(CL 음극선광)을 검출하여 고분해능의 이미지 성분분석 및 CL 이미지분석이 가능하다. Powder wafer biological sample과 같은 여러 종류의 이미지분석이 가능한 장비로서 나노관련분야를 비롯한 많은 분야에서 범용적으로 사용되는 분석장비이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201604/20160406187392.jpg |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원 서울센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2001-07-026692 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0004822 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |