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장비 및 시설 기본정보
X선 회전 분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Rigaku |
| 모델명 | SmartLab |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-12-05 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 기초과학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B520 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | X선 회절 분석기는 규칙적으로 배열되어 있는 매질에 반사된 X선들 사이에서 일어나는 회절 현상을 이용하여 구조를 분석하는 장비로 나노구조를 분석하는데 널리 사용되고 있는 장비임. SmartLab 기기는 분석 용도에 따라 내부에 부가 장치들을 탈/부착하기 용이하게 제작된 장치로 단순 분말에 대한 엑스선 회절 분석뿐만 아니라 특수 분석 실험까지 진행할 수 있으며 특히 Parallel 빔 또는 Bragg-Brentano 집적 빔을 선택적으로 만들 수 있는 Cross beam optical 장치가 달려 있어 얇은 박막 또는 적은 양의 샘플을 분석할 때 적합한 장비임. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201312/20131223182447882.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술원 화학과 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2013-12-184519 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0041441 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |