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장비
장비 및 시설 기본정보
탁상형주사전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 쎄크(Sec) |
| 모델명 | SNE-4500M |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-10-10 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기계연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 물성의 고배율 이미지 분석을 위한 주사전자현미경 (SEM scanning electron microscope). 최대배율 10만배 구현 가능한 장비로 미세입자 구조의 정성적 분석에 활용 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161017151744_20140110000000169843 NFEC-2014-01-184955.jpg |
| 장비위치주소 | 한국기계연구원 연구3동 202호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-01-184955 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0042393 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |