초점이온빔 현미경
| 기관명 | ZEUS |
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| 장비번호 | |
| 제작사 | FEI |
| 모델명 | FIB Helios 600 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-12-05 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 특성분석센터 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A200 |
| 표준분류명 | 계측 |
| 시설장비 설명 | 나노구조 및 나노영역에서의 성분분석과 나노회로 보정 나노구조물 제작 등 초미세 영역 에서의 물질네어 장비 -FIB는 여러가지 구성요소들에 의해 그 시스템이 완성되어 하나의 장비로 사용됨 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20160921092117_20090420000000043660 NFEC-2008-12-070408.jpg |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 연구동(L5) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-12-070408 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KIST AAC-00001 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |