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장비
장비 및 시설 기본정보
주사탐침현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Veeco |
| 모델명 | Nanoscope IIID |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2007-12-06 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A208 |
| 표준분류명 | 계측 |
| 시설장비 설명 | AFM은 잘 휘어지는 지렛대(cantilever)끝에 달려있는 뽀족한 침과 시료표면에 작용하는 원자 반발력, 즉 인력 및 척력이 작용한다. 이러한 상호작용 때문에 지렛대가 휘게 되고 그 휘는 정도를 레이저 광의 굴절을 통해서 표면정보를 얻는다. 이는 부도체인 시료를 볼 수 있게 하여 원자 현미경을 고분자, 생명공학 및 광학 등 거의 모든 분야에서 사용 할 수 있게 하였다. AFM은 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 모판(Substrate)끝에 아주 미세한 힘(나노뉴톤)에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever)끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침을 붙였다. 이 프로브 탐침의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 끌어당기는 또는 밀어 내는 여러가지 힘이 샘플 표면의 원자와 탐침끝의 원자사이에 작용하는데 이 힘에 의해 캔티레버의 휨이 발생하고 이 힘이 일정하게 유지되도록 하면서 삼차원 영상을 얻을 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201111/20111111101053.JPG |
| 장비위치주소 | 한국과학기술연구원 청정연구동(L6) |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2008-01-055572 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0055908 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |