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장비 및 시설 기본정보
주사전자현미경(FE-SEM)
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | S-4800 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-12-31 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술원 중앙분석센터 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | 전계방사형 주사전자현미경은 1 나노미터 정도의 분해능으로 고체 시료의 표면을 볼 수 있는 장비임. 주사전자현미경에 부착되어 있는 후방산란전자 검출기는 시료조성차에 따른 미세구조를 볼 수 있음. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/O21arHktTZW537KVGcnT_w600.jpg |
| 장비위치주소 | |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2016-12-235322 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kaist_analy-00026 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |