- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
저진공 전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitachi |
| 모델명 | Flex SEM 1000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2016-12-05 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 대구경북과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 분석 |
| 시설장비 설명 | : 진공 환경하에서 전계방사형 source 에서 방출되는 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해서 발생되는 이차전자, 후방산란전자를 이용하여 시료의 미세구조분석과 원소의 정성 및 정량분석이 가능함. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201701/2017011613235399.png |
| 장비위치주소 | 대구경북과학기술원 중앙기기센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2017-01-235748 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712191591 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |