초고분해능 주사전자현미경
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | FEI |
| 모델명 | Verios 460 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-02-13 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 기초과학연구원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 샘플에 30kV이하의 가속전압을 가지는 전자빔을 조사하여 나오는 이차 전자, 후방산란전자, X-ray 등을 이용하여 시편 표면의 형태, 굴곡, 조성 등을 알아내는데 사용하는 장비이다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201712/20161025172531_20150226000000186733 NFEC-2015-02-198821.jpg |
| 장비위치주소 | 울산과학기술대학교 101동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-02-198821 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712212544 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |