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전계방사형 주사전자현미경

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보유기관명	한국과학기술연구원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A206
표준분류명	분석
시설장비 설명	전계방사형주사전자현미경은 가속된 전자가 시료의 표면에 입사하였을 때 나오는 이차전자, 후방산란전자, X선 등의 다양한 정보를 수집하여 시각화 하는 현미경 장비로, 일반 광학현미경으로는 볼 수 없는 높은 배율의 표면 이미지 및 조성을 관찰 할 수 있다. 본 장비는 복합체나 나노패턴구조체 등을 포함하는 신소재 물성 분석에 있어 반드시 필요한 표면구조와 그와 연관된 원소분석을 10-8-10-9 m 수준의 초미세 영역에서 관찰할 수 있다.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201710/20171010155625133.jpg
장비위치주소	한국과학기술연구원 L4
NFEC 등록번호	NFEC-2017-10-240107
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-201712273075
첨부파일