광전자 분광 장치
| 기관명 | ZEUS |
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| 장비번호 | |
| 제작사 | Kratos Analytical |
| 모델명 | AXIS NOVA |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2005-08-29 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B521 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 특징 (1) 물질의 전자구조 및 화학적 상태 측정 분석 (2) 샘플의 화학적결합상태 측정 (3) 표면 및 계면의 전자구조 분석 (4)물질의 에너지레벨 측정을 통한 일함수 측정 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/200712/20071213153733.bmp |
| 장비위치주소 | 한국기초과학지원연구원 연구2동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2006-01-035557 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KBSI_PPS-00100 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |