전계방사 주사전자 현미견
| 기관명 | ZEUS |
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| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-7001F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2006-12-22 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 한국생산기술연구원 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | ㅇ 원리 및 특징 본 FE-SEM / EDS/ EBSD system은 소재의 미세소직 관찰 성분분석 및 결정구조 특성을 평가하기 위한 장비로서 즉 1.5nm의 고분해능에서 관찰 영역을 가지기 때문에 일반적인 합금소재 나노소재 및 비정질 합금에서의 texturing이 가능한 장비이다. 또한 하나의 시스템에서 조직관찰 상 분석 및 결정방위 해석이 one-stop 으로 가능하다는 장점이 있다. 또한 수집된 데이터의 가공이 html 및 word file로 의 변 환이 가능하도록 시 스템이 구성되어 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201310/20131011103541237.jpg |
| 장비위치주소 | 한국생산기술연구원 호남권 지역본부 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-11-047598 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-kitech-00580 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |