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고순도 Ge 반도체 검출기

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보유기관명	동남권원자력의학원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	A503
표준분류명	계측
시설장비 설명	방사선의 검출원리에 있어서 반도체물질로 충전된 고체전리함이라 볼 수 있다. 반도체 물질에 방사선이 입사되면 전리작용에 의하여 전자와 장공쌍들이 생성되며 이 전자와 정공쌍들은 외부전장에 의해서 집적되어 입사방사선의 에너지에 비례하는 전기적 펄스의 신호를 발생시킨다. 불순물농도나 결함이 매우 적은 고순도의 Ge 결정체를 사용하여 저온에서 전기저항이 매우 높고 높은 바이어스 전압을 걸 수 있으며 검출기의 분해능이 뛰어나므로 임의 의 시료에 대한 방사성핵종들의 정성분석 및 정량분석을 하고자 할 때 적합한 장비이다. 측정에너지 범위는 10 keV ~ 10 MeV이며 검출효율은 80%이다.
장비이미지코드	http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201304/20130405143218448.jpg
장비위치주소	동남권원자력의학원 본관동 방사선의학물리연구실
NFEC 등록번호	NFEC-2013-04-177477
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0038425
첨부파일