- HOME
- 기술정보
- 장비
장비
장비 및 시설 기본정보
광분석기기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 피에스아이(PSI) |
| 모델명 | PSI Co. PL/PLE System |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-12-02 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B518 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 특징 - Xe 광원에서 생성된 빛이 프리즘을 통과하면서 분광된다. 이렇게 분광된 빛 중에 특정한 파장을 선택하여 형광물질에 조사하고 이때 형광물질이 발광하는 빛을 CCD를 이용하여 측정한다. 특징은 기존의 Photoluminescence 장비가 형광물질의 빛을 분석할 때 빛의 파장별로(nm scale)로 받아들여서 수 분에 걸쳐 분석하는데 반해 본 장비는 220~1100 nm 의 빛을 1초 내에 측정할 수 있다. 또한 형광물질의 홀더를 모터를 이용하여 움직이게 만들었기 때문에 자동으로 최대 16개의 형광물질을 별도의 입력 없이 분석할 수 있다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201101/20110131162044.jpg |
| 장비위치주소 | 한국화학연구원 1연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2009-01-140008 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-KRICT_PA-00235 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |