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장비 및 시설 기본정보
빔품질 특성 측정 연구장비
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Ophir |
| 모델명 | M2-200s |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2015-05-28 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국전기연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A410 |
| 표준분류명 | 시험 |
| 시설장비 설명 | 레이저 빔 품질 M2 측정 빔 프로파일을 하는 측정하는 광학 장치 - 자동 스캔닝 방식으로 2분 안에 레이저 빔 품질의 측정 - 빔 웨이스트 위치 및 폭 측정 - 빔 품질 측정을 통한 레이저의 최적화 - 자동 감쇠 조정 기능 - 대부분의 빔 직경과 출력에 대한 펄스와 연속파(CW)측정 |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/201507/201507291127362.png |
| 장비위치주소 | 한국전기연구원 안산분원 제1연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2015-07-204063 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-NTIS-0058003 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |