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장비
장비 및 시설 기본정보
주사전자 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JSM-6300 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1997-10-30 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 안동대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 가속된 전자가 시료의 표면에 조사될 때 발생되는 2차전지로부터 시료의 미세구조의 영상 을 확대하여 관찰하며 확대된 영상을 촬영할 수 있으며 발생되는 X-선으로부터 정성 및 정량분석이 가능하다.제작회사 : Jeol (Japan) 모 델 명 : JSM-6300 가속 전압 : 0.2~30 kV 배 율 : 20~250000배 해상도 : 3.5 nm at 30 kV 부착 장비 : 0.02~2000 micro meter EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer ) WDS(Wavelength Dispersive X-ray Spectrometer )금속 세라믹 고분자 광물시료의 미세구조 관찰 및 구성성분 분석 생물(세포 식물 조직 박테리아 바이러스 등)의 미세조직 관찰 및 촬영 구성원소의 분포 확인(X-ray mapping) |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200806/.thumb/20080625155159.gif |
| 장비위치주소 | 공동실험실습관 111호 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-1999-04-032580 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0005524 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |