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장비
장비 및 시설 기본정보
전자현미성분분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Jeol |
| 모델명 | JXA-8100 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2004-12-09 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국화학연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 기능 EPMA의 원리로는 가속된 전자 빔이 시료를 구성하고 있는 원자와 충돌하여 원자의 하부각에 있는 전자를 떼어내면 빈 자리가 형성되고 이 자리는 상부 각에 위치한 전자가 떨어지면서 채워지게 된다. 이때 두 전자 사이에 형성된 에너지에 의해 특성 X-선이 방출되며 이들의 에너지는 원자마다 다르므로 이를 이용하여 시료의 구성원소를 분석하며 또한 이들의 상대적 세기를 비교함으로서 각 구성 원소들의 양을 분석한다. |
| 장비이미지코드 | http://www.zeus.go.kr/storage/images//equip/photo/itep200710/1155221401_1.jpg |
| 장비위치주소 | 한국화학연구원 10연구동 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2007-10-046812 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/resv/equip/read/Z-krict_chem-00003 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |